【IEEE ED-15 Japan Chapter 広報】IEEE EDS Japan Joint Chapter総会およびIEDM報告会開催のお知らせ
IEEE EDS Japan Joint Chapter 会員各位
IEEE EDS Kansai Chapter 会員各位
IEEE SSCS Japan Chapter 会員各位
IEEE SSCS Kansai Chapter 会員各位
IEEE Electron Devices Society Japan Chapter
Chair 西山 彰
Vice Chair 平本 俊郎
IEEE EDS Japan Joint Chapter総会およびIEDM報告会開催のお知らせ
IEEE EDS Japan Joint Chapterでは，以下の日程でChapter総会を開催致します。
併せて、2018 IEDM (International Electron Devices Meeting)の報告会を開催致します。
多くの皆様にご参加をいただけますよう御案内申し上げます。
*** IEEE EDS Japan Joint Chapter総会・IEDM報告会 ***
■ 日時:2019年1月25日(金) 13:00-16:45
■ 会場: 東京大学先端科学技術研究センター3号館南棟1階ENEOSホール
アクセス https://www.rcast.u-tokyo.ac.jp/ja/access.html
■ 参加無料
■ 参加申込(下記Webサイトから参加申込み受付中です。)
http://www.ieee-jp.org/japancouncil/chapter/ED-15/
※1 事前に参加申込いただけるとスムーズです。非会員の方もご参加頂けます。
※2 セキュリティ等の関係で参加登録ページにアクセスできない場合は、下記問い合わせ先までメールにて、ご所属、ご芳名をご連絡いただければ、当方で事前登録いたします。
【IEEE EDS Japan Joint Chapter総会】 13:00-13:30
(1) 2018年活動報告 及び 2019年活動予定
(2) Japan Joint Chapter Student Award表彰
【IEDM報告会】 13:30-16:50 （敬称略）
13:30 – 13:50 Optoelectronics, Displays, and Imagers 堺 俊克（NHK放送技術研究所）※
13:50 – 14:10 Nano Device Technology 山下 朋弘（ルネサスエレクトロニクス）
14:10 – 14:30 Modeling and Simulation 田中 千加（東芝メモリ）
14:30 – 14:50 Process and Manufacturing Technology 山口 直（ルネサスエレクトロニクス）
14:50 – 15:10 休憩
15:10 – 15:30 Memory Technology 小林 正治（東京大学）
15:30 – 15:50 Characterization, Reliability and Yield 青野 英樹（ルネサスエレクトロニクス）
15:50 – 16:10 Power Devices / Compound Semiconductor and High Speed Devices 牧山 剛三（富士通研究所）
16:10 – 16:30 Sensors, MEMs, and BioMEMS ティクシェ三田アニエス（東京大学）
16:30 – 16:50 全体動向 高柳 万里子（東芝）
※代読予定（黒田 理人（東北大学））
お問い合わせ先：
IEEE EDS Japan Joint Chapter, Secretary
三谷祐一郎（東芝メモリ株式会社 メモリ技術研究所）
TEL 059-390-4589
yuuichiro.mitani@toshiba.co.jp
IEEE EDS Japan Joint Chapter ホームページ：
