EDS/SSC - Proceso de generación de defectos espacio-temporales en pilas de MOS
Pequeño fe de erratas, la hora del evento es horario local.
Disculpen las molestiass..
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EDS/SSC - Proceso de generación de defectos espacio-temporales en pilas de MOS de HfO2 irradiadas: mecanismos correlacionados versus no correlacionados
Fecha y horario Actualizada
Invitation
El IEEE Joint chapter Nº 3 (EDS/SCC) de la sección Argentina lo invita a la conferencia “Proceso de generación de defectos espacio-temporales en pilas de MOS de HfO2 irradiadas: mecanismos correlacionados versus no correlacionados” dictada por el distinguido conferencista del IEEE Dr. Félix Palumbo.
Abstracto
En este artículo, analizamos la dependencia de la pendiente de Weibull (β) extraída de las pruebas TDDB en condensadores HfO2 MOS (MOSCAP) en la densidad inicial de defectos inducidos artificialmente por experimentos de irradiación de microhaz cuidadosamente ajustados con diferentes dosis de carbono.
La tendencia experimental consistente de reducir β con el aumento de la densidad de defectos fue reproducible solo con simulaciones de descomposición basadas en la física que consideraron la generación de defectos correlacionados en HfO2 y los rastros de daños localizados (trayectorias de percolación parcial) creados por los iones que chocan. Los escenarios de distribución de defectos inicial espacialmente aleatoria y generación de defectos inducida por estrés aleatorio (en espacio y tiempo) no pudieron explicar las tendencias experimentales, lo que confirma que la generación de defectos correlacionados existe en HfO2, lo que altera bastante la comprensión convencional de TDDB.
Date and Time
- Date: 29 Dec 2022
- Time: 02:00 PM to 03:00 PM
- All times are (UTC-03:00) Buenos Aires
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Location
Esta es una charla web, el día del evento se enviará un enlace al correo electrónico utilizado en el registro al evento.
Para este evento utilizaremos la plataforma Google Meet y el idioma de habla será solo Español.
Tambien se abrira horas antes del evento un link por este medio
Datos de la reunion
Información para unirse a la reunión de Google Meet
Vínculo a la videollamada: https://meet.google.com/mwq-haga-kvh
O marca el: (AR) +54 11 3986-3700 PIN: 212 208 318 0063#
Más números de teléfono: https://tel.meet/mwq-haga-kvh?pin=2122083180063
O únete por SIP: sip:2122083180063@meet.ieee.org
Hosts
Registration
- Starts 22 December 2022 07:00 PM
- Ends 29 December 2022 03:00 PM
- All times are (UTC-03:00) Buenos Aires
- No Admission Charge
Speakers
Dr. Felix Palumbo
